| 分子式 | |
| 形态 | 固体 |
| 存储条件 | 在洁净环境中室温保存。 |
| 注意事项 | 避免阳光直射，防止撞击使用过程中注意不能用手触摸硅基片，特别是标记用来扫描校准的区域，要用合适的镊子来夹取触控型的探针进行扫描时，应避免使用小探针时加载过大压力而造成划伤例如在半径小于等于1 μm的探针上加载超过0.1mN的压力时会划伤硅片表面。 |
纳米台阶高度标准物质
编号:GBW13953 浓度:500
二氧化硅薄膜膜厚标准物质
编号:GBW13959 规格:1片 浓度:57.55
二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
编号:GBW13970 规格:片 浓度:45.61
二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
编号:GBW13974 规格:1片 浓度:119.1
X射线粒度测定用αSiO2标准物质
编号:GBW(E)130015 浓度:4组分
离子色谱仪检定用标准物质水中硫酸根成分分析标准物质
编号:GBW(E)130432 浓度:200
棕色中硼硅玻璃安瓿瓶
编号:1880322
水中硫酸根成分分析标准物质
编号:GBW(E)086173 CAS号:7778-80-5
稀硫酸溶液
编号:BWZ6593-2016 CAS号:7664-93-9
水中二氧化硫溶液标准物质
编号:BWB2217-2016 CAS号:7446-09-5
一次性灭菌接种环
编号:PY22442
纳氏试剂（碘化钾 碘化汞 氢氧化钠）
编号:BWZ6055-2016 CAS号:/
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