| 分子式 | |
| 形态 | 固体 |
| 存储条件 | 贮存在阴凉干燥的室温环境条件下,运输过程中必须保持包装的完整。 |
| 用途 | 物理学与物理化学/光学特性 |
| 注意事项 | 本标准物质在用于检定/校准仪器之前,应通过惰性气体离子溅射清洁样品表面以减少污染物直至碳和氧的1s光电子峰信号高度均低于全谱中最强金属峰高度的2%。 |
二氧化硅薄膜膜厚标准物质
编号:GBW13957 规格:1片 浓度:12.56
二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
编号:GBW13973 规格:1片 浓度:102.2
X射线衍射仪校正和定量相分析用αSiO2标准物质
编号:GBW(E)130017 浓度:4组分
掺硼硅单晶片中低电阻率测试标准物质
编号:GBW(E)130026 浓度:8~12
硅单晶电阻率标准物质
编号:GBW(E)130059 浓度:2×102
水泥用比表面积标准物质
编号:GBW(E)130227 浓度:349.1